概述
GB/T5654-2007液體介電常數介質損耗測試儀GDAT-S是具有多種功能和更高測試頻率的新型阻抗分析儀,體積小,緊湊便攜,便于上架使用。本系列儀器基本精度為0.05%,測試頻率高2MHz及10mHz的分辨率,4.3寸的LCD屏幕配合中英文操作界面,操作方便簡潔。集成了變壓器測試功能、平衡測試功能,提高了測試效率。儀器提供了豐富的接口,能滿足自動分選測試,數據傳輸和保存的各種要求。
產品用途
介電常數測試儀由高頻阻抗分析儀、測試裝置,標準介質樣品組成,能對絕緣材料進行 高低頻介電常數(ε)和介質損耗角(D或tanδ) 的測試。它符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規范要求。
介電常數測試儀工作頻率范圍是20Hz~1Mhz 2Mhz 5Mhz(選配), 三種選項它能完成工作頻率內對絕緣材料的相對介電常數(ε)和介質損耗角 (D或tanδ)變化的測試。
介電常數測試儀中測試裝置是由平板電容器組成,平板電容器一般用來夾被測樣品,配用高頻阻抗分析儀作為指示儀器。絕緣材料的介電常數和損耗值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的D值(損耗值)變化和Cp(電容值)讀數可以直接不用人工計算得到。
產品優勢
◎可直接得到介電常數和介質損耗 不用人工計算
◎可測試電阻
◎ 4.3寸TFT液晶顯示
◎ 中英文可選操作界面
◎ 高5MHz的測試頻率
◎ 平衡測試功能
◎ 變壓器參數測試功能
◎ 高測試速度:13ms/次
◎ 電壓或電流的自動電平調整(ALC)功能
◎ V、I 測試信號電平監視功能
◎ 內部自帶直流偏置源
◎ 可外接大電流直流偏置源
◎ 10點列表掃描測試功能
◎ 30Ω、50Ω、100Ω可選內阻
◎ 內建比較器,10檔分選和計數功能
◎ 內部文件存儲和外部U盤文件保存
◎ 測量數據可直接保存到U盤
◎ RS232C、 USB 、LAN、HANDLER、GPIB、DCI接口
◎ 高頻阻抗分析儀電容值Cp分辨率0.00001pF和6位D值顯示,保證了ε和D值精度和重復性。
◎ 介電常數測量范圍可達1~105
ε和D性能
固體絕緣材料測試頻率20Hz~2MHz的ε和D變化的測試。
ε和D測量范圍:ε:1~105,D:0.1~0.00005,
ε和D測量精度(10kHz):ε:±2% , D:±5%±0.0001。
測試參數 :C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR
測試頻率 :20 Hz~2MHz,10mHz步進
測試信號電:f≤1MHz 10mV~5V,±(10%+10mV)平 :f>1MHz 10mV~1V,±(20%+10mV)
輸出阻抗:10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω
基本準確度 ;0.1%
顯示范圍
L 0.0001 uH ~ 9.9999kH
C :0.0001 pF ~ 9.9999F
R,X,Z,DCR :0.0001 Ω ~ 99.999 MΩ
顯示范圍 :
Y, B, G 0.0001 nS ~ 99.999 S
D :0.0001 ~ 9.9999
Q :0.0001 ~ 99999
θ :-179.99°~ 179.99°
測量速度 ;快速: 200次/s(f﹥30kHz) ,100次/s(f﹥1kHz)
中速: 25次/s, 慢速: 5次/s
校準功能 :開路 / 短路點頻、掃頻清零,負載校準
等效方式 :串聯方式, 并聯方式
量程方式:自動, 保持
顯示方式 :直讀, Δ, Δ%
觸發方式 :內部, 手動, 外部, 總線
內部直流偏 :電壓模式-5V ~ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進
置源 :電流模式(內阻為50Ω)-100mA ~ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進
比較器功能:10檔分選及計數功能
顯示器;320×240點陣圖形LCD顯示
存儲器 :可保存20組儀器設定值
USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) USB HOST(FAT16 and FAT32 support)
接口 :LAN(LXI class C support) RS232C HANDLERGPIB(選件)
工作頻率范圍:20Hz~2MHz 數字合成,
精度:±0.02%
電容測量范圍:0.00001pF~9.99999F 六位數顯
電容測量基本誤差:±0.05%
損耗因素D值范圍:0.00001~9.99999 六位數顯
介電常數測試裝置(含保護電極): 精密介電常數測試裝置提供測試電極,能對直徑φ10~56mm,厚度<10mm的試樣精確測量。
它針對不同試樣可設置為接觸電極法,薄膜電極法和非接觸法三種,以適應軟材料,表面不平整和薄膜試樣測試。
微分頭分辨率:10μm
高耐壓:±42Vp(AC+DC)
電纜長度設置:1m
高使用頻率:5MHz (選配)


